電子顯微鏡的產品系列日益完善，應用范圍自然也會相應拓寬，即便是專業性極強的行業領域中，對于電鏡產品的依賴性也相對較強，但前提是不同的工作模式，對于產品的功能類型要加以匹配，至于FIB-SEM的實踐應用，則是在自動結構分析和TEM樣品制備以及納米原型設計中備受青睞。其實不管產品類型和功能如何變化，只要能夠在匹配的應用中取得符合要求的顯著成效，在錯綜復雜的行業環境中，就能夠逐步實現利用率的提升。
眾所周知，自動結構分析是具有較高專業水準的工作模式，如果沒有可信賴電鏡產品作為依托，分析過程中難免會遇到很多不確定因素的干擾，從而導致分析結果無法達到預期水平。而在采用了
FIB-SEM相對應的儀器設備以后，不僅能夠明顯提升分析效率，而且效果水平的提高幅度也會在此基礎上有所增加，從而為產品設備的價值體現奠定基礎。
材料表面的研究分析，同樣離不開功能匹配的電鏡儀器，這也是在持續工作中總結出來的經驗之談，目前來看
XPS儀器對于材料表面工藝的應用需求更容易給予充分滿足。依托電鏡儀器進行材料表面的精細化分析，會在高性能和功能化方面表現出得天獨厚的優勢，以此作為契機改進固有的應用策略，自然會對整體效果帶來明顯改善。
由此可見，針對不同的分析流程和應用條件，靈活調整電競儀器的配置策略還是很有必要的，畢竟這對充分發揮XPS儀器卓越的性能優勢，能夠從不同角度起到很好的輔助作用。無論分析類型如何變化，電鏡儀器的功能匹配度都有必要大幅度提高，從而為切實保障具體分析的整體效果不會受到干擾，在此基礎上的分析結果也是值得信賴的。
